| 一种用以校核具有下列型式的测量系统的方法，该测量系统具有若干个测量用传感器、一套控制装置及若干电缆，每一上述电缆将一个上述传感器与上述控制装置相连接，在该系统中，一个传感器及其连接电缆的组合体对该系统所作之测量工作具有影响效应，该方法由下列步骤组成： （Ａ）按预定条件设定上述若干传感器中之一个； （Ｂ）按照该传感器之一及其连接电缆的组合体对该测量系统所产生影响效应之数值去设定一个可变阻抗器； （Ｃ）保留该可变阻抗器的该值； （Ｄ）对该若干个传感器中的每一个及其连接电缆重复施行（Ａ）至（Ｃ）各步骤： （Ｅ）日后当上述传感器中至少有一个已不处于上述测定条件时，执行下列各步骤： （１）设置一个置换校核器网路，包括若干个可变阻抗通道， 每一传感器及其电缆的组合体至少要有一个这种通道； （２）按照指定的一个传感器与电缆组合体于事先已保留的数值去设定可变阻抗器； （３）按照（Ｅ）（２）步骤所形成的可变阻抗器状态，在上述若干个可变阻抗通道中的一个相应的通道上重现该指定传感器及电缆组合体的上述效应； （４）对每一个上述保留值重复施行（Ｅ）（２）至（Ｅ）（３）各步骤； （５）有选择地将上述若干个可变阻抗通道与该控制装置相连接，以之代替上述若干传感器及上述若干电缆，从而把在上述预定条件下选中的一个传感器及其连接电缆的影响效应施加到该测量系统上去； 借此方法即可把在上述预定条件下的所有传感器及其连接电缆的各种效应在测量系统中模拟出来。 |