温度测量装置
申请专利号 85108209
专利申请日 19851014
名称 温度测量装置
公开（公告）号 1000788
公开（公告）日 19860510
类别 G01K 11/12、G01D 5/26
申请（专利权）人 三菱电机株式会社
地址 日本东京都千代田区丸之内二丁目2番3号
发明（设计）人 井田芳明
专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公司
代理人 吴秉芬
摘要
一种光学温度测量装置，无论其传感器的温度发生变化或传感器的特性有因时间过长而降低时都能提供准确的输出．本仪器包括一个光源，一个分光器及一个温度传感器．其构成材料的一端经过第一光导通路与光源相联，另一端经过另一光导通路与分光器相联．分光器的输出被转换成电信号，该信号随即被用数个不同的比较电平进行检测，以求得传感器在各自的参考电平时的光吸收波长范围的较高端数值，然后对这些较高端数值进行处理，以求得温度传感器的因温度而变化的光吸收特性曲线的上升点．
主权项
温度测量装置其特征是包括：一个光源；一个分光器；包括光导纤维在内的限定光径的装置；由温度随吸收光线而变化特性的材料构成的温度传感器。该温度传感器的一端经过光径的第一部分与光源联结，另一端经过光径的第二部分与分光器联结；将分光器的光输出转换成电信号的第一装置；用相当于不同量的光线经过温度传感器的不同的参考电平以检测电信号的第二装置，以求得在各参考电平时温度传感器所吸收光的波长范围较高端的值，及对吸收波长范围较高端的值进行处理的第三装置，以求得温度传感器的温度因吸收光而变化的特性曲线的上升点。

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