| 申请专利号 |
85100284 |
| 专利申请日 |
19850401 |
| 名称 |
光调制自动光测弹性应力的方法和装置 |
| 公开（公告）号 |
1000038 |
| 公开（公告）日 |
19850910 |
| 类别 |
G01L 1/24 |
| 申请（专利权）人 |
北京大学 |
| 地址 |
北京市海淀区中关村 |
| 发明（设计）人 |
张远鹏、王楚、张合义、朱美栋、施来荣、陆燕仲、武润玺、柴玉明 |
| 专利代理机构 |
北京大学专利事务所 |
| 代理人 |
俞达成 |
| 摘要 |
| 光调制自动光测弹性应力的方法和装置，属于光测弹性应力技术领域．采用非单色光源以便于作双波长测量，达到可测任意条纹级数值的目的．采用电光调制器以利用其电致双折射特性实现补偿消光．在被测模型前后加有一对旋光器以便得到被测模型相对于正交偏振光场的转动效应．测量过程在微处理机控制下自动进行，测量结果以电信号送微处理机作数据自动处理．本发明提高了光测弹性应力的自动化程度，缩短了测量周期，提高了测量精度． |
| 主权项 |
| 一种光测弹性应力的方法，将被测模型置於正交偏振光场中，在电光调制器无电致双折射补偿的情况下，转动模型一个角度使检偏后的光强最小（非补偿消光态），此角即表示主应力的方位，然后使模型反转４５°，在电光调制器的电致双折射补偿的情况下使检偏后的光强最小（补偿消光态），则电致双折射光程差就等於应力双折射光程差，由此求得主应力差；本方法的特征在于用旋光法代替测量过程中模型的转动，起偏器的入射光采用非单色光，检偏后的光分成波长为λ↓［１］与λ↓［２］的两束光以便测量被测点的条纹级数和主应力的确切方向。 |