一种折射率测试系统
申请专利号 85100867
专利申请日 19850401
名称 一种折射率测试系统
公开（公告）号 1001032
公开（公告）日 19860610
类别 G01N 21/41
申请（专利权）人 电子科技大学
地址 四川省成都市东城区建设北路二段四号
发明（设计）人 林为干、杨淑雯、邹景荣、叶昆**
专利代理机构 电子科技大学专利事务所
代理人 马新民
摘要
一种具有反射型光纤传感器的折射率测试系统．该系统由反射型光纤传感器、驱动电源、光源、信号处理设备、终端设备及连接这些部件的光纤或电缆组成．反射型光纤传感器有无源和有源两种，其内部结构有多种不同形式．使用本发明能连续测量折射率及其相关的物理量，如浓度、密度等．本发明克服了常规光学仪器结构复杂庞大、灵活性差的缺点，又克服了现有光纤传感器的灵敏度低、结构不大牢固的缺点．
主权项
一个折射率测试系统，它由驱动电源、光源、信号处理设备、终端设备、光纤所组成，本发明的特征是有一个无源的反射型光纤传感器，它是由作为敏感元件的棱镜、自聚焦透镜、和连接光源与自聚焦透镜和连接终端设备与自聚焦透镜的光纤所组成。

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