面向多用户的键合-深刻蚀释放微电子机械加工方法
申请专利号 03104782
专利申请日 20030228
名称 面向多用户的键合-深刻蚀释放微电子机械加工方法
公开(公告)号 1431142
公开(公告)日 20030723
类别 B82B 1/00、H01L 21/00
申请(专利权)人 北京大学
地址 北京市海淀区颐和园路5号
发明(设计)人 张大成、李婷、阮勇、王玮、王兆江、郝一龙、王阳元
专利代理机构 北京大学专利事务所
代理人 余长江
摘要
本发明涉及一种微电子机械加工方法。将MEMS技术的发展分为器件结构设计和工艺加工两大方向,包括硅片工艺部分,PYREX7740或HOYASD2玻璃片上的工艺部分和组合工艺部分。采用了先进的对准静电键合和高深宽比硅刻蚀技术;但整体工艺结构比较简单,而且能够满足多种器件芯片结构的加工需求,还具有可扩展的工艺模块与之配套。可广泛应用于MEMS技术领域。
主权项
一种面向多用户的键合-深刻蚀释放微电子机械加工方法,其步骤包括: 1)硅片上的工艺部分 1.1)淀积或热生长SiO↓[2]、第一面涂胶保护、腐蚀蚀SiO↓[2]、去胶; 1.2)第一面光刻、腐蚀SiO↓[2]、去胶; 1.3)硅浅台阶腐蚀、腐蚀去除SiO↓[2]; 2)PYREX7740或HOYA SD2玻璃片上的工艺部分 2.1)光刻、腐蚀玻璃浅槽; 2.2)溅射电极金属; 2.3)剥离形成金属电极; 3)组合工艺部分 3.1)硅片,玻璃片键合对准; 3.2)硅/玻璃静电键合; 3.3)硅片腐蚀减薄; 3.4)划片; 3.5)双面光刻; 3.3)高深宽比硅刻蚀、去胶。

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