激光诱导制备尺寸可控高密度纳米硅量子点列阵
申请专利号 03113046
专利申请日 20030325
名称 激光诱导制备尺寸可控高密度纳米硅量子点列阵
公开(公告)号 1438168
公开(公告)日 20030827
类别 B82B 3/00
申请(专利权)人 南京大学
地址 江苏省南京市南京市汉口路22号
发明(设计)人 黄信凡、陈坤基、李伟、徐骏、冯端、王明湘、姜建功、施伟华
专利代理机构 南京师范大学专利事务所
代理人 陈建和
摘要
激光诱导制备尺寸可控高密度纳米硅量子点列阵的方法:先进行多层调制结构的制备:利用等离子体增强化学汽相淀积技术制备非晶硅或锗/非晶氮化硅或二氧化硅的单层或多层调制结构,其中a-Si:H子层厚度与激光晶化后希望获得的量子点尺寸基本相符;然后用激光诱导晶化:衬底温度:150-250℃。本发明实现限制性结晶能够有效地控制硅量子点的形成与大小分布,由于多层调制结构中a-Si:H子层的厚度可人工设计,精度可达0.5nm,可控性强,从而使得最后形成的nc-Si量子点尺寸也可人工设计并控制。介质层a-SiN#-[X]:H或a-SiO#-[2]子层厚度可薄至5nm,
主权项
激光诱导制备尺寸可控高密度纳米硅量子点列阵的方法:先进行多层调制结构的制备:利用等离子体增强化学汽相淀积技术制备非晶硅或锗/非晶氮化硅或二氧化硅的单层或多层调制结构,其特征是其中a-Si∶H子层厚度与激光晶化后希望获得的量子点尺寸基本相符;然后用激光诱导晶化;衬底温度:150-250℃。

    0 人评论

    提交您的看法